基础练习 芯片测试
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问题描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
需要思考技巧
提交代码
1 #include<iostream> 2 #include<vector> 3 using namespace std; 4 //author: Qiang 5 int main(){ 6 int n; 7 cin>>n; 8 int s[n][n]; 9 vector<int>obj; 10 for(int i=0;i<n;i++){ 11 for(int j=0;j<n;j++){ 12 cin>>s[i][j]; 13 } 14 } 15 for(int i=0;i<n;i++){ 16 int p1=0,p2=0; 17 for(int j=0;j<n;j++){ 18 if(s[j][i]==1)p1++; 19 else p2++; 20 } 21 if(p1>p2){ 22 obj.push_back(i+1); 23 } 24 } 25 vector<int>::iterator it; 26 for(it=obj.begin();it!=obj.end();it++){ 27 cout<<*it<<" "; 28 } 29 return 0; 30 }
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