基础练习 芯片测试

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问题描述
  有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
  每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
  给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。
输入格式
  输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
  第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试)。
输出格式
  按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
 
需要思考技巧

提交代码

 1 #include<iostream>
 2 #include<vector>
 3 using namespace std;
 4 //author: Qiang
 5 int main(){
 6     int n;
 7     cin>>n;
 8     int s[n][n];
 9     vector<int>obj;
10     for(int i=0;i<n;i++){
11         for(int j=0;j<n;j++){
12             cin>>s[i][j];
13         }
14     }
15     for(int i=0;i<n;i++){
16         int p1=0,p2=0;
17         for(int j=0;j<n;j++){
18             if(s[j][i]==1)p1++;
19             else p2++;
20         }
21         if(p1>p2){
22             obj.push_back(i+1);
23         }
24     }
25     vector<int>::iterator it;
26     for(it=obj.begin();it!=obj.end();it++){
27         cout<<*it<<" ";
28     }
29     return 0;
30 }

 

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