SPARK 网络研讨会：用于先进半导体研发的终极 S/TEM 平台

Posted 2021-04-03 赛默飞材料与结构分析中国

降低电子束损伤的时代已经来临

市场对高性能、低功率半导体器件的需求日益增长。移动端、云服务、人工智能、自动驾驶车辆的数据处理与内存需求推动了当前技术突破极限。材料、架构和工艺的创新对于交付下一代半导体器件至关重要。

先进半导体研究和开发人员需要具备原子级表征能力，才能进行快速、可重复且无损伤的分析。

赛默飞世尔科技发布新的S/TEM平台

最新先进扫描/透射电子显微镜 (S/TEM) 提供了极佳的洞察力，最大限度地提高了样品的完整性，提高了生产率。

立即注册参加本次 SPARK 网络讲座

在本次网络研讨会中，您将了解到：

新的S/TEM及其高性能功能。

利用快速能谱 (EDS) 和快速高压 (HT) 切换功能来降低甚至消除电子束损伤。

Ultra-X EDS 探测器系统快速、轻松地分析先进材料、轻元素和薄样品成分。

网络研讨会时间

2021年3月4日北京时间下午4点

注册方式

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目标受众

先进逻辑和存储器制造商的高级技术专家和研发经理

关于 SPARK：

SPARK 是赛默飞世尔科技提供的一个知识平台，它有助于节约时间、节省资金并率先掌握先进的半导体技术。

SPARK 是一个合作空间，行业思想领袖齐聚在此，就工具性能和典范做法各抒己见。SPARK 为想要轻松获取可执行的半导体和微电子见解以及了解先进解决方案的专业人员打造了一个社区。当中还包括了赛默飞世尔科技半导体产品和工作流程的新信息。

关于主讲人：

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Dr. Dong Tang

现任赛默飞世尔科技半导体业务部 TEM 产品市场经理。作为一名资深显微镜专家，他在赛默飞世尔科技已经任职了 25 年，最初担任 Philips Electron Optics 公司的应用专员。他目前的职责之一是将新的TEM技术转化为应用，并将客户需求转化为半导体市场的最新技术。Dong Tang 博士获得了剑桥大学物理学博士学位。