TLV816光耦CTR测试

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篇首语:本文由小常识网(cha138.com)小编为大家整理,主要介绍了TLV816光耦CTR测试相关的知识,希望对你有一定的参考价值。

光耦CTR是指光耦内部流过集极电流IC与流过发光二极管的电流IF比值,IF为流过发光二极管的电流,用于驱动发光二极管使光敏管导通,允许光敏管流过的最大电流为Ic;驱动需要满足Ic<IF*CTR。
技术图片

测试数据如下图:

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测得CTR曲线如图:

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光耦一次侧与二次侧线性关系:

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 CTR1是两端都为5V供电时,测得的结果,CTR2为二极管侧输入为3.3V时测试结果,从CTR曲线可以看出光耦CTR不受驱动电压影响,CTR3为Vce=3.3V时测得的CRT,相对于典型值要略低一点。

 

以上是关于TLV816光耦CTR测试的主要内容,如果未能解决你的问题,请参考以下文章

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