MOSFET规格书参数详解

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说明:MOS管漏极和源极最大耐压值。

测试条件:在Vgs=0V,栅极和源极不给电压。

影响:超过的话会让MOSFET损坏。

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说明:ID的漏电流。

测试条件:在Vgs=0V,在漏极和源极两端给48V的电压。

影响:漏电流越大功耗越大。

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说明:栅极漏电流

测试条件:在Vgs=+-20V,在漏极和源极两端不给电压。

影响:

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说明:开启电压

测试条件:在Vgs=Vds,在漏极和源极两端电流控制在250uA。

影响:低于参考值可能出现不导通现象,设计时需要考虑范围值。

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说明:完全开启,漏极和源极两端最大过电流30A,

测试条件:在Vgs=Vds,在漏极和源极两端电流控制在250uA。

影响:低于参考值可能出现不导通现象,设计时需要考虑范围值。

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说明:导通时,Vds的内阻

测试条件:在Vgs=10V,通过12A的电流;Vgs=4.5V,通过6A的电流,在漏极和源极两端的内阻。

影响:内阻越小,MOS过的电流越大,相同电流下,功耗越小。

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说明:跨导的单位是A/V。是源极电流Id比上栅极电压Vgs,是栅极电压对源极电流的控制作用大小,

跨导:
线性压控电流源的性质可表示为方程 I=gV ,其中g是常数系数。系数g称作跨导(或转移电导),具有与电导相同的单位。 这个电路单元通常指放大器。
在MOS管中,跨导的大小反映了栅源电压对漏极电流的控制作用。在转移特性曲线上,跨导为曲线的斜率。
单位是 S (西门子),SI基本单位量纲 m^-2˙kg^-1˙s^3˙A^2 ,一般用mS

测试条件:

影响:

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说明:MOS管体二极管的正向导通压降

测试条件:在VGS=0V,体二极管正向通过1A的电流。

影响:

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说明:体二极管可承受最大连续续电流

测试条件:

影响:如果偏小,在设计降额不充裕的系统中或在测试OCP,OLP(逐周期电流限制保护(OCP),限制最大输出电流;过载保护(OLP),限制最大输出功率;)

的过程中会引起电流击穿的风险

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说明: Ciss=Cgs+Cgd 输入电容

    Coss=Cds+Cgd 输出电容

    Crss=Cgd(米勒电容)

测试条件:

影响:    Ciss:影响到MOS管的开关时间,Ciss越大,同样驱动能力下,开通和关断时间就越慢,开关损坏也就越大。较慢的开关速度对应会带来较好的EMI

    Coss和Crss:这两项参数对MOSFET关断时间略有影响,其中Cgd会影响到漏极有异常高电压时,传输到MOSFET栅极电压能力的大小,对雷击测试项目有一点的影响。

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说明:Ciss

测试条件:

影响:

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说明:    Qg:栅极总充电电量

    Qgs:栅极充电电量

    Qgd:栅极充电电量

测试条件:

影响:

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说明:

测试条件:

影响:

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说明:

测试条件:

影响:

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说明:

测试条件:

影响:




以上是关于MOSFET规格书参数详解的主要内容,如果未能解决你的问题,请参考以下文章

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