OMM和CMM的测量区别
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篇首语:本文由小常识网(cha138.com)小编为大家整理,主要介绍了OMM和CMM的测量区别相关的知识,希望对你有一定的参考价值。
CMM(坐标测量机,Coordinate Measuring Machine)和OMM(光学测量机,Optical Measuring Machine)是两种常用的测量设备,它们在工程、制造和质量控制领域中广泛应用。这两种测量设备有各自的优缺点,适用于不同的测量任务。下面我们对比一下它们之间的区别及差异原因:
1. 工作原理
CMM:CMM通常使用触头对物体表面进行接触式测量,通过测量探针与被测物体的相对位置得到物体的几何尺寸和形状信息。
OMM:OMM使用非接触式光学传感器,如CCD相机、激光扫描仪等,通过捕捉物体表面的光学影像并进行图像处理,来获取物体的几何尺寸和形状信息。
2. 测量精度
CMM:CMM通常具有较高的测量精度,可以达到微米级别。它适用于精密零件和复杂形状的零件的测量。
OMM:OMM的测量精度相对较低,但在某些应用场景中,如检测电子元件、轻薄片材等,OMM可以提供足够的精度。
3. 测量速度
CMM:由于CMM采用接触式测量,因此测量速度相对较慢。
OMM:OMM采用非接触式测量,测量速度较快,尤其适用于大批量生产的在线检测。
4. 对被测物体的要求
CMM:CMM需要与被测物体接触,所以在测量柔软、易变形或易损坏的物体时,可能导致测量误差或损坏被测物体。
OMM:OMM采用非接触式测量,因此更适合测量柔软、易变形或易损坏的物体。
5. 应用领域
CMM:CMM适用于精密制造、汽车、航空航天、模具制造等行业,广泛用于复杂形状、高精度要求的零件测量。
OMM:OMM主要应用于电子、半导体、塑料、橡胶等行业,适用于批量生产的在线检测和非接触式测量。
总之,CMM和OMM各自有其优点和适用范围。在实际应用中,需要根据被测物体的特性、测量精度要求和生产效率等因素,选择合适的测量设备。
加法、半加法和非加法测量有啥区别
【中文标题】加法、半加法和非加法测量有啥区别【英文标题】:What's the difference between additive, semi-additive, and non-additive measures加法、半加法和非加法测量有什么区别 【发布时间】:2015-12-15 17:09:28 【问题描述】:我在网上搜索了数据仓库中的加法、半加法和非加法测量之间的区别。我发现了一些结果,但我很难理解这些差异,因为它们不是一个例子。您能否通过示例向我进一步解释加法、半加法和非加法测量之间的区别。
【问题讨论】:
【参考方案1】:事实表中的数字度量分为三类。最灵活和最有用的事实是完全可加的;可以对与事实表相关的任何维度求和。
销售(从商店购买)是一个完全附加衡量标准的示例。您可以添加每小时销售额以获取一天、一周、一个月、一个季度或一年的销售额。您可以添加跨商店或区域的销售额。
半加性度量可以在某些维度上求和,但不是全部;支票账户或储蓄账户余额是常见的半加法事实。
您可以从交易文件中重新创建余额金额,但添加 10 月、11 月和 12 月的余额金额(跨时间维度)没有任何意义。
最后,一些度量是完全非加法的,例如比率。对于非加性事实,一个好的方法是在可能的情况下存储非加性测量的完全加性分量,并将这些分量相加到最终答案集中。
最后,您计算最终的非加性事实。
强调,通常,非添加剂是平均值、百分比和比率,对它们执行额外的聚合是无关紧要的(例如,将产品的 2 个销售比率相加根本没有意义), 因此,非加法事实不应存储在事实表中,并且通常会在事实表中对加法事实进行操作。
来源: [1]
【讨论】:
谢谢先生您的回答很有帮助以上是关于OMM和CMM的测量区别的主要内容,如果未能解决你的问题,请参考以下文章
CMM模型,结构化开发方法和面向对象开发方法的比较,UML(统一建模语言),jackson开发方法