DSP篇--C6678功能调试系列之Nor_FLASH调试

Posted 2022-12-15 nanke_yh

               FLASH作为EMIF的外设，对其操作就需要根据EMIF的片选来确定FLASH的地址。

        对于Flash的测试主要是flash擦除，flash读和flash写。可以根据Flash的数据手册得到Flash的相应操作的命令定义表：

        擦除FLASH主要有片擦除和扇区擦除两种方法。一般调试大部分使用片擦除，也就是全部擦除。

        查看flash手册重点需要找到以下几个关键点：1、FLASH的起始地址，也即基地址；2、扇区擦除时，每一扇区的起始地址和长度。

         FLASH根据接线，其测试分为4个片选进行测试，每个片选对应FLASH容量为8MB，片选1地址空间为0x7000,0000～0x71FF,FFFF，片选2地址空间为0x7400,0000～0x75FF,FFFF，片选3地址空间为0x7400,0000～0x75FF,FFFF（其中片选2,3 对应的CPU地址相同，CPU通过GPIO信号来控制FPGA选择片选），片选4地址空间为0x7800,0000～0x79FF,FFFF。

for(i = 0;i < 0x400000;i++)

	DRV_FLASH_SingleWrite((UINT16 *)(0x80000000+i*4),0x70000000+i*8);
	if(*(volatile Uint16 *)(0x80000000+i*4)!= *(volatile Uint16 *)(0x70000000 + i*8))
	
		flash_err_count++;