IC ESD测试方法

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篇首语:本文由小常识网(cha138.com)小编为大家整理,主要介绍了IC ESD测试方法相关的知识,希望对你有一定的参考价值。

IC的ESD测试方法

主要有四种ESD测试组合:

一. 输入/输出 pin相对于VDD/VSS测试

 

注解:

(1)所有输入/输出PAD相对于地的正向ESD脉冲测试。

(2)所有输入/输出PAD相对于地的负向ESD脉冲测试。

(3)所有输入/输出PAD相对于电源的正向ESD脉冲测试。

(4)所有输入/输出PAD相对于电源的负向ESD脉冲测试。

二. Pin to Pin ESD测试

 

注解:

(1)每一个输入/输出相对于其他所有的输入/输出的正向ESD脉冲测试。

(2)每一个输入/输出相对于其他所有的输入/输出的负向ESD脉冲测试。

三. VDD to VSS ESD测试

 

注解:

(1)正的ESD电压出现在VDD脚,此时VSS脚接地,但所有I/O脚皆悬空。

(2)负的ESD电压出现在VDD脚,此时VSS脚接地,但所有I/O脚皆悬空。

四. Analog Pin ESD测试

在模拟IC内常有差动输入级(DifferenTIal Pair)。如OP的差动输入级的正负输入端连接到IC的Pin时,这两支输入脚要另外单独做R电放电测试,以验证该两支输入脚所连接的差动输入级会不会被静电放电所破坏。

 

注解:

(1)正的ESD电压出现在差动输入级的正输入脚位,此时差动输入级的负输入脚接地,其他所有I/O脚以及VDD,VSS脚皆悬空。

(2)负的ESD电压出现在差动输入级的正输入脚位,此时差动输入级的负输入脚接地,其他所有I/O脚以及VDD,VSS脚皆悬空。

以上是关于IC ESD测试方法的主要内容,如果未能解决你的问题,请参考以下文章

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