STM32H7 ADC 过采样对精度的影响效果

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篇首语:本文由小常识网(cha138.com)小编为大家整理,主要介绍了STM32H7 ADC 过采样对精度的影响效果相关的知识,希望对你有一定的参考价值。

测试条件:

  • STM32H7
  • 杜邦线+鳄鱼夹
  • 36M时钟,1.5cycle采样时间
  • 100k采样速度
  • 采集直流SDG 1032X信号发生产生的1V直流

测试过程中,让TIM去触发ADC采集100个点,通过printf打印到出口助手,观察数据,去掉极其个别噪声过大的点(毕竟是鳄鱼夹+杜邦线连接)。然后观察大部分数据的电压波动,找到最大和最小的差值。

注意这里只测量了波动,没有测量稳定值和理想值之间的电压差,因为直接用杜邦线接鳄鱼夹,会有阻抗等别的问题,绝对误差没有太大意义。

过采样倍数波动(mv)ADC采样率上限交错采样率上限
1203.6M7.2M
2101.8M3.6M
45900k1.8M
83450k900k
161.5-2225k450k
321112k225k
640.5-156k112k
1280.528k56k
2560.514k28k
5120.57k14k
10240.53.5k3.5k

考虑过采样相当于取平均,测量了1,2,4倍过采样后,其他倍数的误差大致可以预估出来,大致是2倍缩小。

这里测试条件受限,看到64-1024倍的过采样基本分不出区别。如果配合上诸如SMA连接,跟随器等外部电路,测量效果更佳。

以上是关于STM32H7 ADC 过采样对精度的影响效果的主要内容,如果未能解决你的问题,请参考以下文章

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