如何将STM32的调试口设置为普通IO口

Posted 2023-04-24

参考技术A

STM32支持JTAG和SWD两种调试方式，且默认状态下这两种调试功能都是 开启 的。

由此我们可以知道：
如果要使用JTAG调试功能，那么PB3，PB4，PA13，PA14，PA15都不能使用；
而如果我们关闭JTAG功能，但是开启SWD调试功能，那么PB3，PB4，PA15都可以当作普通IO来使用了；

ST官方3.5的库有提供关闭调试功能的两个接口：

执行上面语句后，PB3，PB4，PA13，PA14，PA15都可以当作普通iO来使用，此时不能通过J-Link进行调试了；

执行上面语句后，PB3，PB4，PA15都可以当作普通iO来使用，且可以通过SWD进行调试。

建议程序启动时延时3-5秒后再关闭JTAG调试模式，如此，单片机断电复位后立即点击烧写按钮也是可以进行程序烧录的。

设置启动模式为ISP模式（BOOT0=1、BOOT1=0）或设置启动模式为RAM运行模式（BOOT0=1、BOOT1=1）。
将开发板断电后重新上电，此时就因不是在用户程序模式，因此就不会执行禁用JTAG的语句，JTAG功能也就可以正常使用。

设置启动模式为ISP模式（BOOT0=1、BOOT1=0），用ISP程序将STM32的FLASH擦除，之后就可恢复JTAG功能。

如果你的仿真器支持SWD仿真模式，如IAR下用JLINK、MDK下用ULINK2。直接将仿真器的模式设为SWD模，就可以不受这个禁止JTAG功能的影响了。

stm32的双向io口

 # stm32的io端口双向设置问题，须将io端口模式配置为 open-drain mode

　　> 在io端口配置为输出模式时，输入通道上的施密特触发器一直是打开的，所以读取IDR是能检测到端口电平的

　　> 排除 push-pull mode 模式的依据是，推挽输出是强输出电流模式，在此模式下的输出通道上的推挽结构MOS管，属于强上拉和强下拉的，这会影响读取IDR时的值，强上拉意味着会将来自外部的低电平输入强制置高，强下拉意味着会将来自外部的高电平输入强制置低

　　> 在 open-drain mode 模式下，要读取来自外部的输入信号前，须将输出端口设置为开漏结构，且输出高电平信号（即NMOS不导通），该结构下io端口方能准确反映来自外部的输入信号

　　> 在复用模式下，暂未尝试，相信会有奇妙的发现