可靠性设计之降额设计
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降额设计是为了提升电子设备的可靠性而常用的一种设计方法,主要是指构成电子设备的元器件使用中所承受的应力(电应力和温度应力)低于元器件本身的额定值,以达到延缓其参数退化,增加工作寿命,提高使用可靠性的目的。
在降额设计中,“降”得越多,要选用的元器件在性能上就应该越好,成本也就越高,所以在降额设计过程中,要综合考虑。电子产品发展到今天,人们已经总结出“降额”的通用准则,详见《GJB/Z 35-1993元器件降额准则》。并不是所有的电子产品都可以“降额”,在实现设计过程时,应该注意:
不应将标准所推荐的降额量值绝对化,应该根据产品的特殊性适当调整;
应注意到,有些元器件参数不能降额;
一般说来,对于电子元器件,其应用应力越降低越能提高其使用可靠性,但却不尽然。如聚苯乙烯电容器,降额太大易产生低电平失效;
为了降低元器件的失效率,提高设备可靠性而大幅值降低其应用应力,按其功能往往需要增加元器件数量和接点,反而降低了设备可靠性;
对器件进行降额应用时,不能将所承受的各种应力孤立看待,应进行综合权衡;
不能用降额补偿的方法解决低质量元器件的使用问题,低质量产品要慎重使用;
1、 降额等级划分
I级降额是最大的降额,对元器件使用可靠性的改善最大。超过它的更大降额,通常对元器件可靠性的提高有限,且可能使设备设计难以实现。
II级降额是中等降额,对元器件使用可靠性有明显改善。II级降额在设计上较I级降额易于实现。
III级降额是最小的降额,对元器件使用可靠性改善的相对效益最大,但可靠性改善的绝对效果不如I级和II级降额。III级降额在设计上最易实现。
2、 降额设计常用标准
GJB/Z 35-93 元器件降额准则,是中国的军用标准,应用参考最广。
深圳市企业设计技术标准-元器件降额准则,网络上流传的深圳几家知名公司编写的降额标准。
RAC器件降额标准Electronic Derating For OptimumPerformance是美国国防部可靠性信息分析中心的降额标准。
ANSI/GEIA STD-0008-2011电子元件降额标准,是TechAmerica Standard,2011年8月发布了该标准,算是比较新的降额标准了。
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