关于TTL电路工作原理，求详细解答

Posted 2023-04-13

这是个与非门电路。
T1有三个发射极：A、B、C，其中只要有一个发射极低电位T1就导通，T1导通时C1为低电位；这时T2截止、T5也截止（T5是依靠R3上的电压来控制导通和截止的）；由于T2截止，C2处于高电位，所以T3、T4导通，输出F为高电位。
T1只有当A、B、C都是高电位时T1才截止，T1截止时，T1的bc结相当于一个二极管，所以T2由R2及T1的bc结获得基极电流而导通，T5也随着导通；由于T2 的导通，C2处于低低电位，T3、T4截止，输出F为低电位。
所以，当A、B、C都是高电位时输出F为低电位，A、B、C中只要有一个是低电位时输出F就是高电位。
这里我只量定性叙述了一下高低电位的原理，图上也定量计算了高低电位。 参考技术A 这是三输入端与非门电路，F = (A B C)' 。
三极管是电流控制型器件，Ic = β Ib ，仅从电流分析即可：
A、B、C 只要有一个接低电平，电源通过 R1 使 T1 饱和，T1 的 Ic 从 T2 的基极拉电流，而不是注入电流，T2 没有 Ib ，自然截止；
T2 截止，T5 也没有 Ib 注入， T5 截止，F ≠ 0 。
T2 截止，电源通过 R2 注入电流，达林顿管 T3、T4 导通，电源通过 R4 限流输出高电平，F = 1 。

数字电路实验 01 - | TTL门电路的逻辑功能测试

一、实验目的和任务

1. 测试TTL集成芯片中的与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。
2. 了解测试的方法与测试的原理。

二、实验原理介绍

实验中用到的基本门电路的符号为：

在测试芯片逻辑功能时输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示输出的逻辑功能。

三、实验数据、计算及分析