数字电路实验 01 - | TTL门电路的逻辑功能测试
Posted Neutionwei
tags:
篇首语：本文由小常识网(cha138.com)小编为大家整理，主要介绍了数字电路实验 01 - | TTL门电路的逻辑功能测试相关的知识，希望对你有一定的参考价值。
一、实验目的和任务
- 测试TTL集成芯片中的与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。
- 了解测试的方法与测试的原理。
二、实验原理介绍
实验中用到的基本门电路的符号为：
在测试芯片逻辑功能时输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示输出的逻辑功能。
三、实验数据、计算及分析
以上是关于数字电路实验 01 - | TTL门电路的逻辑功能测试的主要内容，如果未能解决你的问题，请参考以下文章
Multisim-74LS0874LS0274LS86逻辑功能仿真实验