思达科技推出先进Micro-LED集成测试系统

Posted 2021-05-01 半导体行业观察

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思达独角兽Unicorn-LAIT先进高生产量Micro-LED测试系统

光学器件测试系统领先供应商-思达科技，今天发布新一代先进高生产量Micro-LED测试系统 – 思达独角兽Unicorn-LAIT。此系列测试系统是先进的Micro-LED集成测试系统，具有并行测试仪器，测试探针台和探针卡，适合测试Micro-LED 和 Mini-LED，满足了批量生产需要。

思达独角兽Unicorn-LAIT系统是实现符合成本效益的LED批量生产的先进集成测试系统。配备的Magic-A200e探针台，可执行最大至6吋晶圆和探针卡校准的自动化探测测试；基于思达金牛座Taurus-LPX的平行测试仪，参数量测单元（PMU，Parametric Measurement Unit）能够执行48至240个LED的并行量测。具备执行效率的系统架构，使思达独角兽Unicorn-LAIT适合LED行业晶片制造商，和光学器件制造商的需要。

这套系统搭配电磁干扰屏蔽室，为高速的LED测试过程提供超低噪声的环境。Magic-A200e配置的闭环XYZ平台和具专利的同轴颢微镜，确保了多站点LED步进，和高分辨率扫描，以及探测的最佳精度。此外，多孔陶瓷夹具与申请专利的辅助夹具，易于清洁且能进行接触检查，可以提高LED测试性能。

Magic A-200e探针台配置的闭环XYZ平台和具专利的同轴显微镜

同时，思达金牛座Taurus-LPX是高生产量的参数量测单元(PMU)，它具有不同的电压和电流范围，每个模组配置48个通道，最多可到5个模组。基于FPGA固件控制和高速ADC，金牛座Taurus-LPX能执行高速并行测试，以确保最高的测试生产量，且有良好的准确性和可重复性。

Taurus-LPX 是高生产量的参数量测单元

思达牡羊座Aries-PCT探针卡是一款长寿命的多待测器件的Micro-LED测试探针卡，最高可触点48个LED器件(最多240个)，可与96个探针进行单触式触碰测试。此款并行器件测试探针卡，可以和CDA一同设置，用以清除探测残留碎片和晶片颗粒。LED可配置用于不同的器件测试要求，像是VF、IF等等，而特殊的高电压探针，可配置用于ESD器件测试。

思达多待测器件Micro-LED测试探针卡

思达科技执行长刘俊良博士表示，“思达科技自成立以来，长期关注在行业测试解决方案的研发。思达独角兽Unicorn-LAIT测试系统是真正符合Micro-LED 和Mini-LED的测试挑战。采用了先进的测试探针台和并行参数量测单元，是专为LED器件设计和开发的探测测试解决方案，可帮助客户降低测试成本，同时提供生产量的改善，以满足新一代器件的测试挑战。”

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