光缆单盘检测与光缆线路测试需使用双窗口吗?

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1 引言

光缆线路和宽带接入工程中,通常会涉及光缆单盘检测与光缆线路的测试工作,光缆线路测试包括:中继段测试、用户光缆测试等。这些测试条目,有的只需采用测试仪表的1个波长进行测试,即单窗口测试,有的则需要采用2个波长分别进行测试,即双窗口测试。

2 光缆单盘检验

光缆单盘检验是在施工前对光缆器材的部分传输指标进行检验,通常检验缆内光纤的长度、光纤的损耗并观察光纤的后向散射曲线是否有异常。如果光缆在施工前不进行单盘检验,敷设安装好后若发现传输指标异常,很难界定是到货的光缆质量问题还是因不规范施工导致的。所以,光缆单盘检验的主要目的,是在工程中光缆线路传输指标发现异常时界定责任方。

工程中所用光缆中的光纤,在出厂前均经过多次传输指标测试,一般不会出现在其中一个窗口的衰减正常,而另一窗口衰减异常的情况。所以,单盘检验只需采用单窗口测试即可,测试波长尽量采用光缆线路拟采用的工作波长或1550nm波长。

光缆的单盘检验一般使用OTDR,OTDR连接的尾纤通过V型槽光纤对准器(如图1所示)与光缆的纤芯连接。

 图1 V型槽光纤对准器

3 光缆线路测试

光缆线路测试是对完工后的光缆线路或ODN链路(以下统称为光缆线路)衰减进行测试,中继段光缆还需进行偏振模色散测试。在工程设计中,光缆线路的衰减是根据缆中光纤、接头(含成端)、无源器件等衰减的最坏值计算的,光缆线路的衰减实测值往往要优于设计值较多(约0.04dB/km)。所以,工程验收时,不能仅根据光缆线路单一窗口实测的衰减值是否满足设计要求,来判断光缆线路传输指标的好坏。

尽管1310nm窗口下G.652光纤的衰减系数要高于1550nm约0.14dB/km,但由于光纤的宏弯损耗对长波长更敏感,如图2所示,当前光缆线路中普通存在1550nm窗口的线路衰减超1310nm的情况,这主要是由于在光缆接头及成端处,光纤的弯曲半径不符合要求导致的,见《光纤弯曲半径不足对ODN链路衰耗的影响》一文。因此,在光缆线路测试时,有必要进行双窗口测试对比,以检验宏弯损耗对整个线路的影响。

 图2 G.652光纤在不同波长的宏弯损耗

4 测试窗口的建议

在信息通信建设工程预算定额中,与光缆和光缆线路测试有关的条目有4类,分别是:光缆单盘检验、中继段测试、用户光缆测试和ODN链路测试。

(1)光缆的单盘检验只需用OTDR在1550nm波长或工作波长进行单窗口测试;

(2)中继段测试需分别测试1310nm/1550nm波长(G.652D光纤)或1550nm/1625nm波长(G.654E光纤)的衰减,并对不同波长处的测试结果进行比较;

(3)用户光缆测试应使用1550nm波长,并按不低于10%的比例对1310nm波长的衰减进行对比测试;

(4)ODN链路的上、下行应分别采用系统相应的波长(或上行1310nm、下行1550nm波长)进行测试;

(5)编制预算时,中继段双窗口测试的人工及仪表定额应乘以1.8系数,但用户光缆测试和ODN链路全程测试,人工及仪表定额不需乘以系数。


图/文:老丁头;     审阅:杨珩 施华俊

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